E-mail: info@elfmec.ru

Группа в вКонтактеВидео в VK VideoКанал в RutubeКанал в TenchatКанал в Yandex Dzen
Тема:
Главная/Каталог/Оборудование для анализа образцов

Оборудование для анализа образцов

Компактные и практичные профильные проекторы для проверки качества U/V-образных концентраторов на ударных образцах по ГОСТ 9454 и ASTM E23

Показано: 4 шт из 4
Система анализа образцов DKF-260 9

DKF-260

• Автоматический захват и определение изображения
• Измерение и анализ надрезов U и V типа
• Анализ площади разрушения после удара
• Разрешение измерения : 0.001 мм
• Формат отчета : EXCEL
• Стандарт : ГОСТ 9454-2025
Профильный проектор Liangong CST-50 для изучения надрезов

CST-50

• Тип надреза : U-образный (образец Менаже), V-образный (образец Шарпи)
• Общий коэффициент увеличения : 50
• Диаметр экрана : 200 мм
• Патент № : ZL201120539736.8
Проектор CST-50 для изучения качества U2/V2 надрезов

CST-50-3

• Тип надреза : U-образный (образец Менаже), V-образный (образец Шарпи)
• Общий коэффициент увеличения : 50
• Диаметр экрана : 200 мм
• Патент № : ZL201120539736.8
Проектор CST-50 для изучения качества U2/V2 надрезов

CST-50-5

• Тип надреза : U-образный (образец Менаже), V-образный (образец Шарпи)
• Общий коэффициент увеличения : 50
• Диаметр экрана : 200 мм
• Патент № : ZL201120539736.8